array(5) {
[0]=>
object(WP_Term)#2212 (11) {
["term_id"]=>
int(11)
["name"]=>
string(12) "製品案内"
["slug"]=>
string(8) "products"
["term_group"]=>
int(0)
["term_taxonomy_id"]=>
int(11)
["taxonomy"]=>
string(12) "products_cat"
["description"]=>
string(0) ""
["parent"]=>
int(0)
["count"]=>
int(121)
["filter"]=>
string(3) "raw"
["term_order"]=>
string(1) "1"
}
[1]=>
object(WP_Term)#2213 (11) {
["term_id"]=>
int(9)
["name"]=>
string(18) "ソフトウェア"
["slug"]=>
string(8) "software"
["term_group"]=>
int(0)
["term_taxonomy_id"]=>
int(9)
["taxonomy"]=>
string(12) "products_cat"
["description"]=>
string(0) ""
["parent"]=>
int(11)
["count"]=>
int(33)
["filter"]=>
string(3) "raw"
["term_order"]=>
string(1) "2"
}
[2]=>
object(WP_Term)#2214 (11) {
["term_id"]=>
int(28)
["name"]=>
string(15) "データ収集"
["slug"]=>
string(15) "data_collection"
["term_group"]=>
int(0)
["term_taxonomy_id"]=>
int(28)
["taxonomy"]=>
string(12) "products_cat"
["description"]=>
string(0) ""
["parent"]=>
int(24)
["count"]=>
int(17)
["filter"]=>
string(3) "raw"
["term_order"]=>
string(1) "4"
}
[3]=>
object(WP_Term)#2210 (11) {
["term_id"]=>
int(34)
["name"]=>
string(15) "分析計制御"
["slug"]=>
string(16) "analyzer_control"
["term_group"]=>
int(0)
["term_taxonomy_id"]=>
int(34)
["taxonomy"]=>
string(12) "products_cat"
["description"]=>
string(0) ""
["parent"]=>
int(30)
["count"]=>
int(1)
["filter"]=>
string(3) "raw"
["term_order"]=>
string(1) "4"
}
[4]=>
object(WP_Term)#2135 (11) {
["term_id"]=>
int(35)
["name"]=>
string(15) "データ収集"
["slug"]=>
string(11) "data_pickup"
["term_group"]=>
int(0)
["term_taxonomy_id"]=>
int(35)
["taxonomy"]=>
string(12) "products_cat"
["description"]=>
string(0) ""
["parent"]=>
int(30)
["count"]=>
int(16)
["filter"]=>
string(3) "raw"
["term_order"]=>
string(1) "5"
}
}
クライオスタットシステム
分光光度計を制御し、自動測定を行います。
特徴
- 透明な個体試料(半導体等)の吸光度を約5K~300K(-268℃~27℃)の温度範囲で5℃ステップ毎の自動測定を行います。
- 分光光度計の測定範囲(185nm~3300nm)をデータ保存します。
- 測定中の吸光度と温度をグラフ表示します。
- 分光光度計・温調器の詳細設定をソフトウェアにて設定することができます。
種類
データ収集
目的・ターゲット
分析計制御 / データ収集